DIAGNOSTIC MODEL OF SEMICONDUCTOR INTEGRAL SCHEME OUTPUT TRANSMITTER
DOI:
https://doi.org/10.26906/SUNZ.2019.1.077Keywords:
diagnostic model, integrated circuit, advanced induction method, radio-electronic weaponAbstract
Presents a new diagnostic model of the basic logic element (the original translator of the semiconductor integrated circuits) for the improved induction method of diagnostics. The process of determining the technical state of modern radio-electronic weapons is associated with the registration and processing of diagnostic parameters. The basis of the digital circuitry are logic integrated circuits, whose structural features allowed to obtain mathematical expressions for calculating the values of the diagnostic parameter for determining the technical state as separate components of digital electronics and a complete sample of radioelectronic weapon. The new diagnostic model reflects the current connection through the output logic IC recorder with the physico-chemical processes occurring in the semiconductor structures of the radio-electronic components during operation (aging).Downloads
References
Лєнков С.В., Карпенко О.В., Шкуліпа П.А. Діагностична модель радіо компонента для електромагнітного методу діагностування у складі радіоелектронного пристрою // Науково-практичний журнал «Сучасні інформаційні технології у сфері безпеки та оборони». – Київ, 2011. - №3(12). – С.31 – 33.
Жердєв М.К., Шкуліпа П.А. Побудова діагностичної моделі транзистора в активному режимі роботи для енергодинамічного методу діагностування // Збірник наукових праць Харківського університету Повітряних Сил. - Харків, – 2012. – Вип. 4(33). – С.122 – 124.
Вишнівський В. В. Безконтактний індукційний метод діагностування радіоелектронних блоків / В. В. Вишнівський, М. К. Жердєв, Б. П. Креденцер , В. В. Кузавков, Є. В. Редзюк // Збірник наукових праць Військового інституту Київського національного університету імені Тараса Шевченка. – Київ, 2013. – Вип. № 43. – С. 17-23.
Кузавков В.В. Діагностична модель р-n (n-р) переходу в динамічному режимі для безконтактного індукційного методу діагностування. // Збірник наукових праць Військового інституту Київського національного університету імені Тараса Шевченка. – К.: ВІКНУ, 2014. – Вип. №45. – 206 с
Zherdev M. Ways and methods of efficiency increasing of the independent automated test systems of radio-electronic devices / M. Zherdev, B. Kredentser, V. Kuzavkov // Electronics and Сontrol Systems. – 2014. – National Aviation University. – № 4(42). – C. 150–154.
Жердев М. К. Побудова функціональних перевірних тестів для безконтактного індукційного методу діагностування. / М. К. Жердев, В. В. Кузавков // Системи озброєння та військова техніка: Науковий журнал. – Х.: Харківський університет повітряних сил ім. Івана Кожедуба, 2014. – № 4 (40). – С. 73-76
Жердєв, М.К. Узагальнення результатів форсованих випробувань радіоелектронних компонентів / М.К. Жердєв, В.В, Кузавков, І.В. Пампуха / збірник наук. праць ВІКНУ ім. Т. Шевченка. Київ, 2015. — № 49. — С. 40-47.
Жердєв, М.К. Перевірка адекватності аналітичної моделі радіоелектронного компоненту /М.К. Жердєв, В.В. Кузавков / науковий журнал Інформаційна безпека Східноукраїнський національний університет ім. В. Даля. Луганськ, 2014. — № 3 (15). — С. 76-81.
Судакова, Р.С. Надежность и эффективность в технике. Экспериментальная отработка и испытания / Р.С. Судакова, О.И. Тескина. – М.: Машиностроение, 2011. — Т.6. — 408 с.
Горлов М.И. Геронтология кремниевых интегральных схем / Горлов М.И.,Емельянов В.А., Строганов А.В. – М: Наука, 2004. – 300
