Rudenko O, Rudenko Z, Golovko G, Odarushchenko O. Знаходження параметрів скоригованої лінії експоненціальної апроксимації експериментальних даних виявлених дефектів при оцінюванні кількості вторинних дефектів програмних засобів. Системи управління, навігації та зв’язку. Збірник наукових праць [інтернет]. 13Груд2018 [цитується за 3Трав2024];6(52):74-8. Available from: https://journals.nupp.edu.ua/sunz/article/view/1329