[1]
Rudenko, O., Rudenko, Z., Golovko, G. і Odarushchenko, O. 2018. Знаходження параметрів скоригованої лінії експоненціальної апроксимації експериментальних даних виявлених дефектів при оцінюванні кількості вторинних дефектів програмних засобів. Системи управління, навігації та зв’язку. Збірник наукових праць. 6, 52 (Груд 2018), 74-78. DOI:https://doi.org/https://doi.org/10.26906/SUNZ.2018.6.074.